albisteak

Cookieak erabiltzen ditugu zure esperientzia hobetzeko.Gune honetan nabigatzen jarraituz gero, gure cookieen erabilera onartzen duzu.Informazio Gehigarria.
Elkarrizketa honetan, Jason Fant, Global Marketing Manager, Zeus Industrial Products, Inc., eta Matthew Davis, Principal Research Engineer, Luna Innovations, AZoM-ekin eztabaidatzen dute bero-set estalitako PEEK zuntzen erabilera.
Zeus Industrial Products, Inc.-ren egoitza Orangeburg-en (Hego Carolina, AEB) dago.Bere negozio nagusia material polimeriko aurreratuen garapena eta zehaztasun-estrusioa da.Konpainiak 1.300 pertsonari ematen dio lana mundu osoan eta fabrikazio instalazioak ditu Aiken, Gaston eta Orangeburg, Hego Carolina, Branchburg, New Jersey eta Letterkenny, Irlanda.Zeus produktu eta zerbitzuek mediku, automobilgintza, aeroespaziala, zuntz, energia eta fluidoen merkatuetako enpresei eskaintzen diete.
Bezeroaren eskakizunetan oinarrituta, PEEK estrusioa zuntz optikoko estaldura gisa erabiltzea erabaki genuen.PEEK-ren indarra-pisu erlazioak, funtzionamendu-tenperatura altuak eta erradiazio-erresistentzia material interesgarria bihurtzen dute sentsoreen aplikazioetarako ingurune gogorretan, hala nola energia, aeroespaziala eta automobilgintza.PEEK-ren onuradun aplikazioen artean, txertatutako sentsoreen babesa dago egituraren monitorizaziorako edo industria aeroespazialerako osagai konposatuak.Higadura-erresistentzia eta karga transferitzeko ahalmen hobeak produktu erakargarria bihurtzen dute hobietan edo itsaspeko zundaketa aplikazioetarako.
PEEK-en funtsezko abantailak biobateragarritasuna, purutasun handiagoa eta etileno oxidoaren, gamma erradiazioarekiko eta autoklabearekiko erresistentzia dira.PEEK-ek behin eta berriz makurdurak eta urradurak jasateko duen gaitasunak aukera interesgarria bihurtzen du robotika kirurgikorako.PEEK zuntz optikoaren estaldura gisa pentsatuz, material honek birkokapena murrizten duela eta zerbitzu-bizitza handitzen duela ikusi genuen, deformazioa, bibrazioa, presioa eta beste ingurumen-faktore batzuk hautematen eta transmititzen uzten dituen bitartean.
PEEK-ek konpresio-erresistentzia eta ezegonkortasuna erakusten ditu tenperatura-aldaketekin, eta horrek porrota ekar dezake.Arazoak sor daitezke sareak dituzten zuntzekin lan egitean.Zuntzaren Bragg-en errendimenduan konpresioak distortsio gailurra eragiten duela ikusi dugu.
Gure helburua Zeus-en PEEK estalitako zuntz bat eskaintzea da, muturreko tenperatura-gorabeheretan egonkorra dena, zuntzak PEEK estalduraren onurak mantentzea ahalbidetuz tenperatura-gorabeheretan eta zuntza atenuazioaren ondorioz konpresiotik babestuz.
Lunaren OBR 4600 industriako lehen zero-zona hildako bereizmen ultra-altuko erreflektometroa da, Rayleigh-ren atzerako dispertsioaren sentsibilitatea duena, zuntz optikoko osagai edo sistemetarako.OBR-k uhin-luzera koherentearen interferometria erabiltzen du sistema optiko bateko isla txikiak neurtzeko bere luzeraren arabera.Metodo honek gailuaren eskala osoko erantzuna neurtzen du, fasea eta anplitudea barne.Ondoren, grafikoki aurkezten da, erabiltzaileei osagaiak edo sareak probatzeko eta diagnostikatzeko gaitasun paregabea eskainiz.
OBR erabiltzearen abantailetako bat polarizazio-egoeraren bilakaera zuntzean zehar neurtzeko gaitasuna da, birefringentzia banatuaren ideia ematen duena.Kasu honetan, PEEK estalitako zuntzaren eta erreferentziako zuntzaren polarizazio egoera neurtu eta alderatu dugu.Zuntzaren luzera duen OBR hargailuaren polarizazio-egoeraren bilakaerak zuntz-sekzio tolestu baterako espero genukeen itxura du, non ertzean S eta P egoeren periodoa metro gutxiko ordenakoa den.zuntz bihurritzeak eragindako birefingentzia-taupaden luzerarekin bat dator.Erreferentziaren eta PEEKren arteko desberdintasunak kontuan hartuta, ez da inkoherentziarik ikusten, eta horrek propietate optikoei eragiten dien estaldura-prozesuan deformazio iraunkor minimoa dagoela iradokitzen du.
Tenperaturaren zikloan zehar PEEK estalitako zuntzaren atenuazio-aldaketaren batez besteko aldaketa 0,02 dezibelio (dB) baino txikiagoa izan zen kontrol-zuntzarekin alderatuta.Aldaketa honek adierazten du PEEK-en egonkortasunari ez zaiola nabarmen eragiten tenperaturaren zikloak edo shock termikoak.Era berean, ikusi zen PEEK estalitako zuntzaren galera kontrol-zuntzarena baino nabarmen txikiagoa izan zela bihurgune-erradio estuenean.
Zuntzezko estaldura primarioak gure jabetzako prozesua jasan behar du.Bideragarritasuna neurri handi batean zuntzen datu-orriak berrikusiz eta prozesu-gaitasuna epe laburreko froga proben bidez baieztatuz.Azken produktuaren nahi diren propietateek ere eragina dute.
Loturak egin genituen kilometro bat.Hala ere, zuntzaren kalitateak, azken produktuaren ezaugarriek eta beste hainbat parametrok lor dezakegun benetako luzera jarraitua erabaki dezakete.Hau izango da kasuz kasu berriro erabaki beharko dugun zerbait.
PEEK ezin da eskuz erraz bereizten.Baliabide termiko edo kimikoen bidez eraginkortasunez kendu daiteke.Badira PEEK ken dezaketen depuratzaile komertzial batzuk, baina fabrikatzailearekin egiaztatu beharko zenuke horrek garbiketen eta erabilerarekin lotutako beste parametroen arteko erabilera kopuruari nola eragiten dion.PEEK kimikoki ken daiteke poliimideetarako erabili ohi direnen antzeko metodoak erabiliz.
Gure esperientzian, ez dugu korrelaziorik ikusi benetako zuntzaren lodieraren eta ezaugarrien artean.
Denbora-domeinu optikoko reflectometroek islatutako distantziari buruzko informazioa lortzen dute, argi pultsu laburrak bidaliz eta islatutako argia itzultzeko behar duen denbora erregistratuz.Bereziki distiratsuko isla batek hargailua itsutzen du denbora laburrean, eta ezinezkoa da bigarren islapen gailurra behatzea lehen islapen gailurraren atzean dagoen "zona hilean".
OBR maiztasun optikoko domeinuko reflectometrian oinarritzen da.Laser sintonizagarria maiztasun optiko zabal batean eskaneatzen du, proba-gailutik itzultzen den laser izpiaren kopia lokalarekin oztopatzen du, ondoriozko ertzak erregistratzen ditu eta islapen-gertaera jakin baterako distantzia kalkulatzen du interferentziaren maiztasunaren arabera.Prozesu honek zuntzaren ondoko puntuetatik islatutako argia modu eraginkorrean bereizten du, "zona hila" arazorik gabe.
Distantziaren zehaztasuna neurketak egiteko uhin-luzerak eskaneatzeko erabiltzen ditugun laser sintonizagarrien zehaztasunarekin lotuta dago.Laserra NIST ziurtagiria duen barneko gasa xurgatzeko zelula batekin kalibratu da, eskaneatu bakoitzean uhin-luzera kalibratzeko.Laser eskaneatzeko maiztasun optikoaren barrutiaren ezagutza zehatzak distantzia eskalatzearen ezagutza zehatza dakar.Horri esker, OBR-k gaur egun merkatuan dauden OTDR komertzialen bereizmen espazial eta zehaztasun handiena eskaintzea ahalbidetzen du.
Bisitatu zeusinc.com-i PEEK estalitako bero-egonkortutako zuntz optikoari buruz gehiago jakiteko, proba-azterketak eta informazio teknikoa barne, edo jarri harremanetan Jason Fant, Global Marketing Manager, Optical Fiber, [email protected] helbidera.
Bisitatu Lunainc.com zuntz proba-ekipoei buruz gehiago jakiteko edo jarri harremanetan Matthew Davis, Ikerketako ingeniari nagusia [email protected] helbidean.
Zuntz optikoaren industriako merkatuaren eta negozioen garapenaren arduraduna da.Six Sigma Green Belt titularra, Funt IAPD ziurtagiria du eta SPIEko kidea da.
Ingurune gogorretan zuntz optikoko sentsoreen teknologia ezartzen adituak, hala nola gas-turbinetako motorrak, haize-tunelak eta erreaktore nuklearrak.
Oharra: hemen adierazitako iritziak elkarrizketatuenak dira eta ez dute nahitaez islatzen AZoM.com Limited (T/A) AZoNetwork-en, webgune honen jabea eta operadorea.Lege-oharpen hau webgune honen erabilera-baldintzen parte da.
Jatorriz Irlandakoa, Michealla Newcastleko Northumbria Unibertsitatean lizentziatu zen Ingeles Literatura eta Kazetaritzan lizentziatua.Asian eta Australian urtebetez bidaia egin ondoren Manchesterrera joan zen bizitzera.Bere aisialdian, Michellak familiarekin eta lagunekin denbora pasatzen du, mendi-ibilaldiak egiten, gimnasiora/yogara joaten eta Netflix-en azken seriean murgiltzen inor ez bezala.
Zeus Industrial Products Inc. (2019ko urtarrilaren 22a).Erabili PEEK estaldurak zuntz optikoetarako.AZ.2022ko azaroaren 17an berreskuratua https://www.azom.com/article.aspx?ArticleID=13764 helbidetik.
Zeus Industrial Products, Inc. "PEEK estalduraren erabilera zuntz optikoetarako".AZ.2022ko azaroaren 17a.2022ko azaroaren 17a.
Zeus Industrial Products, Inc. "PEEK estalduraren erabilera zuntz optikoetarako".AZ.https://www.azom.com/article.aspx?ArticleID=13764.(2022ko azaroaren 17tik aurrera).
Zeus Industrial Products, Inc. 2019. Erabili PEEK estaldurak zuntz optikoetarako.AZoM, 2022ko azaroaren 17an kontsultatua, https://www.azom.com/article.aspx?ArticleID=13764.
AZoM Seokheun "Sean" Choirekin hitz egiten du, New Yorkeko Estatuko Unibertsitateko Elektriko eta Informatika Ingeniaritza Saileko irakaslearekin. AZoM Seokheun "Sean" Choirekin hitz egiten du, New Yorkeko Estatuko Unibertsitateko Elektriko eta Informatika Ingeniaritza Saileko irakaslearekin.AZoM Seohun "Sean" Choirekin hitz egiten du, New Yorkeko Estatuko Unibertsitateko Ingeniaritza Elektriko eta Informatikako Saileko irakaslearekin.AZoM-k Seokhyeun "Shon" Choi elkarrizketatu zuen, New Yorkeko Estatuko Unibertsitateko Ingeniaritza Elektriko eta Informatikako Saileko irakaslea.Bere ikerketa berriak paper orri batean inprimatutako PCB prototipoen ekoizpena zehazten du.
Gure azken elkarrizketan, AZoMk Ann Meyer doktorea eta Alison Santoro doktorea elkarrizketatu zituen, gaur egun Nereid Biomaterials-ekin afiliatuta daudenak.Taldea biopolimero berri bat sortzen ari da, bioplastikoak degradatzen dituzten mikrobioek itsas ingurunean apurtu dezaketena, i-ra hurbilduz.
Elkarrizketa honek azaltzen du nola ELTRAk, Verder Scientific-eko partaideak, zelula-analizatzaileak fabrikatzen dituen bateriak muntatzeko dendarako.
TESCANek bere TENSOR sistema berria aurkezten du 4-STEM huts oso alturako diseinatuta, nano tamainako partikulen karakterizazio multimodalerako.
Spectrum Match programa indartsua da, erabiltzaileei espektro liburutegi espezializatuak bilatzeko aukera ematen dien antzeko espektroak aurkitzeko.
BitUVisc biskositate handiko laginak maneiatu ditzakeen biskosimetro eredu bakarra da.Prozesu osoan zehar laginaren tenperatura mantentzeko diseinatuta dago.